常州同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀概述：
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是同惠電子針對(duì)半導(dǎo)體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀**性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說(shuō)明及幫助等新一代技術(shù)，適用于生產(chǎn)線快速分選、自動(dòng)化集成測(cè)試及滿足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及分析。
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀測(cè)試頻率為10kHz-2MHz， VGS電壓可達(dá)±40V，足以滿足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體件CV特性測(cè)試分析。得益于10.1英寸、分辨率達(dá)1280*800的電容式觸摸屏，TH510系列半導(dǎo)體器件C-V特性分析儀可將四個(gè)參數(shù)同屏顯示、所有設(shè)置、監(jiān)視、分選參數(shù)、狀態(tài)等可以在同一屏顯示，避免了頻繁的切換的操作。
常州同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀功能特點(diǎn)：
A.單點(diǎn)測(cè)試，10.1英寸大屏，四種寄生參數(shù)同屏顯示，讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺
10.1英寸觸摸屏、1280*800分辨率，Linux系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、LAN接口，帶來(lái)了無(wú)以倫比的操作便捷性。
MOSFET*重要的四個(gè)寄生參數(shù)：Ciss、Coss、Crss、Rg在同一個(gè)界面直接顯示測(cè)量結(jié)果，并將四個(gè)參數(shù)測(cè)試等效電路圖同時(shí)顯示，一目了然。
多至6個(gè)通道測(cè)量參數(shù)可快速調(diào)用，分選結(jié)果在同一界面直接顯示。
B.列表測(cè)試，靈活組合
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持*多6個(gè)通道、4個(gè)測(cè)量參數(shù)的測(cè)試及分析，列表掃描模式支持不同通道、不同參數(shù)、不同測(cè)量條件任意組合，并可設(shè)置極限范圍，并顯示測(cè)量結(jié)果 。
C.曲線掃描功能（選件）
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析，可以對(duì)數(shù)、線性兩種方式實(shí)現(xiàn)曲線掃描，可同時(shí)顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。
D.簡(jiǎn)單快捷設(shè)置
E.10檔分選及可編程HANDLER接口
儀器提供了10檔分選，為客戶產(chǎn)品質(zhì)量分級(jí)提供了可能，分選結(jié)果直接輸出至HANDLER接口。
在與自動(dòng)化設(shè)備連接時(shí)，怎么配置HANDLER接口輸出，一直是自動(dòng)化客戶的難題，TH510系列將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對(duì)應(yīng)信號(hào)、應(yīng)答方式等完全可視化，讓自動(dòng)化連接更簡(jiǎn)單。
F.支持定制化，智能固件升級(jí)方式
同惠儀器對(duì)于客戶而言是開(kāi)放的，儀器所有接口、指令集均為開(kāi)放設(shè)計(jì)，客戶可自行編程集成或進(jìn)行功能定制，定制功能若無(wú)硬件更改，可直接通過(guò)固件升級(jí)方式更新。
儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級(jí)等，都可以通過(guò)升級(jí)固件(Firmware)來(lái)進(jìn)行更新，而無(wú)需返廠進(jìn)行。
固件升級(jí)非常智能，可以通過(guò)系統(tǒng)設(shè)置界面或者文件管理界面進(jìn)行，智能搜索儀器內(nèi)存、外接優(yōu)盤(pán)甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級(jí)包，并自動(dòng)進(jìn)行升級(jí)
G.半導(dǎo)體元件寄生電容知識(shí)
在高頻電路中，半導(dǎo)體器件的寄生電容往往會(huì)影響半導(dǎo)體的動(dòng)態(tài)特性，所以在設(shè)計(jì)半導(dǎo)體元件時(shí)需要考慮下列因數(shù)
在高頻電路設(shè)計(jì)中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來(lái)的影響；MOS管的寄生電容會(huì)影響管子的動(dòng)作時(shí)間、驅(qū)動(dòng)能力和開(kāi)關(guān)損耗等多方面特性；寄生電容的電壓依賴性在電路設(shè)計(jì)中也是至關(guān)重要，以MOSFET為例。
H.標(biāo)配附件
常州同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀技術(shù)參數(shù)：
|
產(chǎn)品型號(hào)
|
TH511
|
TH512
|
TH513
|
|
通道數(shù)
|
2（可選配4/6通道）
|
2
|
|
顯示
|
顯示器
|
10.1英寸(對(duì)角線)電容觸摸屏
|
|
比例
|
16:9
|
|
分辨率
|
1280×RGB×800
|
|
測(cè)量參數(shù)
|
CISS、COSS、CRSS、Rg，四參數(shù)任意選擇
|
|
測(cè)試頻率
|
范圍
|
10kHz-2MHz
|
|
精度
|
0.01%
|
|
分辨率
|
10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz
|
|
100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz
|
|
1Hz 100.000kHz-999.999kHz
|
|
10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz
|
|
測(cè)試電平
|
電壓范圍
|
5mVrms-2Vrms
|
|
準(zhǔn)確度
|
±（10%×設(shè)定值+2mV）
|
|
分辨率
|
1mVrms 5mVrms-1Vrms
|
|
10mVrms 1Vrms-2Vrms
|
|
VGS電壓
|
范圍
|
0 - ±40V
|
|
準(zhǔn)確度
|
1%×設(shè)定電壓+8mV
|
|
分辨率
|
1mV 0V - ±10V
|
|
10mV ±10V -±40V
|
|
VDS電壓
|
范圍
|
0 - 200V
|
0 - 1500V
|
0 - 3000V
|
|
準(zhǔn)確度
|
1%×設(shè)定電壓+100mV
|
|
輸出阻抗
|
100Ω，±2%@1kHz
|
|
數(shù)學(xué) 運(yùn)算
|
與標(biāo)稱值的**偏差Δ，與標(biāo)稱值的百分比偏差Δ%
|
|
校準(zhǔn)功能
|
開(kāi)路OPEN、短路SHORT、負(fù)載LOAD
|
|
測(cè)量平均
|
1-255次
|
|
AD轉(zhuǎn)換時(shí)間（ms/次）
|
快速+：0.56ms(＞5kHz) 快速：3.3ms 中速：90ms 慢速：220ms
|
|
*高準(zhǔn)確度
|
0.1%（具體參考說(shuō)明書(shū)）
|
|
CISS、COSS、CRSS
|
0.00001pF - 9.99999F
|
|
Rg
|
0.001mΩ - 99.9999MΩ
|
|
Δ%
|
±（0.000% - 999.9%）
|
|
多功能參數(shù)列表掃描
|
點(diǎn)數(shù)
|
20點(diǎn)，每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù)，每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選
|
|
參數(shù)
|
測(cè)試頻率、Vg、Vd、通道
|
|
觸發(fā)模式
|
順序SEQ：當(dāng)一次觸發(fā)后，在所有掃描點(diǎn)測(cè)量，/EOM/INDEX只輸出一次
|
|
步進(jìn)STEP：每次觸發(fā)執(zhí)行一個(gè)掃描點(diǎn)測(cè)量，每點(diǎn)均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結(jié)果只在*后的/EOM才輸出
|
|
圖形掃描
|
掃描點(diǎn)數(shù)
|
任意點(diǎn)可選，*多1001點(diǎn)
|
|
結(jié)果顯示
|
同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線
|
|
顯示范圍
|
實(shí)時(shí)自動(dòng)、鎖定
|
|
坐標(biāo)標(biāo)尺
|
對(duì)數(shù)、線性
|
|
掃描參數(shù)
|
Vg、Vd
|
|
觸發(fā)方式
|
單次
|
手動(dòng)觸發(fā)一次，從起點(diǎn)到終點(diǎn)一次掃描完成，下個(gè)觸發(fā)信號(hào)啟動(dòng)新一次掃描
|
|
連續(xù)
|
從起點(diǎn)到終點(diǎn)無(wú)限次循環(huán)掃描
|
|
結(jié)果保存
|
圖形、文件
|
|
比較器
|
Bin分檔
|
10Bin、PASS、FAIL
|
|
Bin偏差設(shè)置
|
偏差值、百分偏差值、關(guān)
|
|
Bin模式
|
容差
|
|
Bin計(jì)數(shù)
|
0-99999
|
|
檔判別
|
每檔*多可設(shè)置四個(gè)參數(shù)極限范圍，四個(gè)測(cè)試參數(shù)結(jié)果設(shè)檔范圍內(nèi)顯示對(duì)應(yīng)檔號(hào)，超出設(shè)定*大檔號(hào)范圍則顯示FAIL，未設(shè)置上下限的測(cè)試參數(shù)自動(dòng)忽略檔判別
|
|
PASS/FAIL指示
|
滿足Bin1-10,前面板PASS燈亮，否則FAIL燈量
|
|
存儲(chǔ)調(diào)用
|
內(nèi)部
|
約100M非易失存儲(chǔ)器測(cè)試設(shè)定文件
|
|
外置USB
|
測(cè)試設(shè)定文件、截屏圖形、記錄文件
|
|
鍵盤(pán)鎖定
|
可鎖定前面板按鍵，其他功能待擴(kuò)充
|
|
接口
|
USB HOST
|
2個(gè)USB HOST接口，可同時(shí)接鼠標(biāo)、鍵盤(pán)，U盤(pán)同時(shí)只能使用一個(gè)
|
|
USB DEVICE
|
通用串行總線插座，小型B類(lèi)（4個(gè)接觸位置）；與USB TMC-USB488和USB2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。
|
|
LAN
|
10/100M以太網(wǎng)，8引腳，兩種速度選擇
|
|
HANDLER
|
用于Bin分檔信號(hào)輸出
|
|
RS232C
|
標(biāo)準(zhǔn)9針，交叉
|
|
RS485
|
可以接收改制或外接RS232轉(zhuǎn)RS485模塊
|
|
開(kāi)機(jī)預(yù)熱時(shí)間
|
60分鐘
|
|
輸入電壓
|
100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz
|
|
功耗
|
不小于130VA
|
|
尺寸（WxHxD）mm
|
430x177x405
|
|
重量
|
16kg
|
常州同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀應(yīng)用：
■ 半導(dǎo)體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光
電子芯片等寄生電容測(cè)試、C-V特性分析
■ 半導(dǎo)體材料
晶圓、C-V特性分析
■ 液晶材料
彈性常數(shù)分析
