WQ9600A晶體管多功能篩選儀
                
            
            
            
            
            如果您對(duì)該產(chǎn)品感興趣的話,可以
            
                產(chǎn)品名稱: WQ9600A晶體管多功能篩選儀 
            
            
                產(chǎn)品型號(hào): WQ-9600A
            
                產(chǎn)品展商: 杭州五強(qiáng)
            
            
            
            
                產(chǎn)品文檔: 無(wú)相關(guān)文檔
            
            
            
            
                簡(jiǎn)單介紹
            
            
                WQ9600A晶體管多功能篩選儀
            
            
                WQ9600A晶體管多功能篩選儀
                 的詳細(xì)介紹
            
        
            
	WQ9600A晶體管多功能篩選儀
	 
	功能特點(diǎn):
	◆儀器采用32位高速ARM處理器技術(shù),內(nèi)部時(shí)鐘高達(dá)100MHz,能夠真正準(zhǔn)確測(cè)量晶體管的開關(guān)時(shí)間,并且將時(shí)間測(cè)量分辨力提高到0.01μS。
	◆能夠自動(dòng)測(cè)量晶體管的放大倍數(shù)β、開關(guān)時(shí)間(上升時(shí)間Tr、存儲(chǔ)時(shí)間Ts、下降時(shí)間Tf)、正向壓降Vbe、飽和壓降Vces、耐壓BVceo、漏電流Iceo等參數(shù)。
	◆儀器在本機(jī)數(shù)字顯示測(cè)量參數(shù)的同時(shí)還將測(cè)量參數(shù)及設(shè)置參數(shù)通過高速USB接口發(fā)送至電腦,方便用戶對(duì)測(cè)量數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)、打印等管理。
	◆儀器能夠根據(jù)測(cè)量參數(shù)對(duì)被測(cè)器件進(jìn)行自動(dòng)分批、對(duì)不合格器件自動(dòng)報(bào)警,并且指明不合格項(xiàng)目。
	◆測(cè)試速度非常快捷,1秒鐘內(nèi)完成參數(shù)測(cè)試。非常適合電子整流器、節(jié)能燈生產(chǎn)廠家對(duì)晶體管進(jìn)行快速批量篩選。
	 
	 
	
		技術(shù)參數(shù):
	
	
		1.  測(cè)量參數(shù)Measure parameter:
	
	
		◆放大倍數(shù)β:(0 - 999)
	
	
		◆開關(guān)時(shí)間Switching time T :(0.01μS - 99.9μS),包括上升時(shí)間、存儲(chǔ)時(shí)間、下降時(shí)間。Including  Tr、Ts、Tf
	
	
		◆飽和壓降Vces:(0 - 2V)
	
	
		◆正向壓降Vbe:(0 - 2V)
	
	
		◆漏電流Leakage current Iceo:(0.01μA - 3mA)
	
	
		◆耐壓Withstand voltage BVceo:(50V - 650V)
	
	
		2.  測(cè)試條件 Testing conditions:
	
	
		   ◆β測(cè)試Ib注入電流分三檔 β test three different Ib current:0.1mA、1.0mA、10mA。
	
	
		   ◆開關(guān)時(shí)間測(cè)試Ic電流分四檔 Switching time test four different Ic current:0.5A、0.25A、0.1A、0.05A;對(duì)應(yīng)Ib電流為 the corresponding Ib current: 0.1A、0.05A、0.02A、0.01A。
	
	
		   ◆Vbe、Vces的測(cè)試條件與開關(guān)時(shí)間測(cè)試條件相同The testing condition of Vbe and Vces is same as switching time testing condition.
	
	
		   ◆漏電流Iceo測(cè)試電壓: 50V~650V連續(xù)可調(diào)。Test voltage for leakage current Iceo: 50V~650V adjustable.